Вниманию сотрудников и студентов ИГДГГ СФУ, а также геологов и аналитиков Красноярска, предлагается курс лекций «Современные методы микроанализа» по следующим темам:

Вторичная ионная масс-спектроскопия (SIMS) – читает Михаэль Виденбек (17 мая)

• Основы микроанализа
  Виды электронно-зондового микроанализа:
  1. анализ основных компонентов (Routine Analysis);
  2. анализ микроэлементов (Trace Element Analysis);
  3. анализ химической связи (Chemical Bonding)
• Ионный микроанализ (Ion Beam Analysis)
• Использование синхротронного излучения в микроанализе (Synchrotron applications)

Контроль и обеспечение качества (Quality Assurance) – читает Аксель Ренно (18,20,21 мая).

Время проведения лекций – 17, 18, 20, 21 мая, с 10-15, место проведения – учебный корпус ИГДГГ (Вузовский пр., д. 3), аудитория 237.